UFLA SIG

Sistema Integrado de Gestão
SGV - Superintendência de Governança/Reitoria
DGTI - Diretoria de Gestão de Tecnologia da Informação

Programação do Evento "Refinamento de Rietveld aplicado ao estudo de materiais cristalinos utilizando dados de difratometria de raios X: uma introdução"


10/04/2024

  • 10:00 - 12:00 / Refinamento de Rietveld aplicado ao estudo de materiais cristalinos utilizando dados de difratometria de raios X: uma introdução* (33 inscritos / Sem limite de vagas)

* Atividades que ainda possuem vagas.


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